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產品名稱/型號
產品簡介
GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A四探針測試儀（便攜式）
GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
HA/RTS-5雙電測四探針測試儀
雙電測四探針測試儀/四探針測試儀 型號：HA/RTS-5
HAD-WSP-51便攜式四探針檢測儀 *
方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀 * HAD-WSP-51數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。
HAD-ST2258A數字式四探針測試儀 *
數字式四探針測試儀/數字式四探針測試儀 * HAD-ST2258A型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
GSZ-RTS-2四探針測試儀（便攜式）/四探針電阻率測試儀
四探針測試儀（便攜式）/四探針電阻率測試儀 GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
HAD-M-2數字式四探針測試儀/四探針電阻率測定儀/四探針測試儀
數字式四探針測試儀/四探針電阻率測定儀/四探針測試儀 HAD-M-2型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
HAD-SZT-2A四探針測試儀
四探針測試儀 1．SZT-2A 主機采用領xian的電路，所測數值更精、更快、更準（一代為傳統式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。 2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數碼管顯示）。
ST2258C數字式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀
數字式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀 ST2258C型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
HAD-M-3手持式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀
手持式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀 HAD-M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
GSZ-RTS-9雙電測四探針測試儀/四探針測試儀
雙電測四探針測試儀/四探針測試儀 采用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。
HARTS-8四探針檢測儀
四探針測試儀 四探針檢測儀 四探針測定儀 HARTS-8型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。
GSZ-RTS-5雙電測四探針測試儀
雙電測四探針測試儀 GSZ-RTS-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。
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