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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡介
	HAD-FT-300A3導體材料電阻率測試儀	采用四端測量法適用于企業、高等院校、科研，實驗室；是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量工具?？膳渲貌煌瑴y量裝置測試不同類型材料之電阻率。液晶顯示，溫度補償功能，自動量程，自動測量電阻，電阻率，電導率數據。
	HAD- QJ36C導體電阻材料電阻率測試儀	產品概述： HAD- QJ36C型導體電阻材料電阻率測試儀主要是為測量電線電纜導體直流電阻、材料電阻率、等制作的，
	GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A四探針測試儀（便攜式）	GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
	HAD-KDY-1A便攜式電阻率測試儀 *	便攜式電阻測定儀/便攜式電阻率測試儀 * HAD-KDY-1A便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
	HAD-SD-600電阻率測試儀/面電阻測試儀 *	電阻率測試儀/面電阻測試儀 * HAD-SD-600型電阻率測試儀用于測量絕緣材料（如塑料薄膜、紙張、玻璃等）上導電涂層的薄片電阻率。HAD-SD-600采用了可靠和精確的4針測量、直觀顯示測量出的單位電阻率（每平方厘米）。
	HHY8-FZ-2010粉末電阻率測試儀/半導體粉末電阻率測試儀 *	粉末電阻率測試儀/半導體粉末電阻率測試儀 * HHY8-FZ-2010半導體粉末電阻率測試儀是本公司根據能源方面，與其是鋰電池的研究需求，開發的型粉末電阻率測試儀。
	HADFM100H粉末電阻率測試儀	粉末電阻率測試儀 HADFM100H參照有關標準進行，用于粉末測量，本儀器將原單片微機的數據處理部分舍去，采用硬件進行電阻率的自動計算，使儀器的可靠性和穩定度大大加強，更方便于用戶，而且價格低廉，實惠。
	HAD-SB36液體（固體）體積電阻率測試儀	液體（固體）體積電阻率測試儀液體體積電阻率及表面電阻率測試儀是根據GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（等同IEC 60093）和GB/T 10064-2006《測量固體絕緣材料絕緣電阻的實驗方法》（等同IEC 60167）而和的。
	HA/DX200GH電線電纜電阻率檢測儀/電阻率測試儀	電線電纜電阻率檢測儀/電阻率測試儀一測量范圍：電阻 10-5----105Ω，分辨率 10-8 （配套夾具另配）線材直徑： 1mm—40mm 二測量誤差： 10-4---105Ω， 0.15% 10-5 Ω ， 0.25%
	GSZ-RTS-2四探針測試儀（便攜式）/四探針電阻率測試儀	四探針測試儀（便攜式）/四探針電阻率測試儀 GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
	HASB40B數字固體體積電阻率及表面電阻率測試儀/	數字固體體積電阻率及表面電阻率測試儀/ HASB40B固體體積電阻率及表面電阻率測試儀是根據GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（等同IEC 60093）和GB/T 10064-2006《測量固體絕緣材料絕緣電阻的實驗方法》（等同IEC 60167）而和的。
	HAD-JXNR-1非接觸電阻率測試儀非接觸厚度測試儀非接觸測試儀	非接觸電阻率測試儀非接觸厚度測試儀非接觸測試儀 1.非接觸測量硅半導體材料的電阻率 2.適合測試硅片，不損傷樣品表面。 3.采用通用PC處理數據,方便數據存儲、打印 4.軟件界面直觀友好
	HAD-JXNR非接觸電阻率測試儀非接觸厚度測試儀非接方塊電阻觸測試儀	非接觸電阻率測試儀非接觸厚度測試儀非接方塊電阻觸測試儀 1.非接觸測量硅半導體材料的電阻率 2.適合測試硅片，不損傷樣品表面。 3.采用通用PC處理數據,方便數據存儲、打印
	HAD-ETCR3000B接地電阻/土壤電阻率測試儀	接地電阻/土壤電阻率測試儀　　ETCR3000B接地電阻/土壤電阻率測試儀專為現場測量接地電阻、土壤電阻率、接地電壓、交流電壓而精心的，采用數字及微處理，4線法、3線法和簡易2線法測量接地電阻，導入FFT（快速傅立葉變換）、AFC（自動頻率控制），具有的抗干擾能力和環境適應能力，重復測試*強，確保長年測量的高精度、高穩定性和高可靠性。
	HAD-FT-302電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀電阻率測試儀	電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀電阻率測試儀 HAD-FT-302電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀是根據國標GB11017-89所規定的測試方法和指標而的，用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，采用四端子電流—電壓降壓法原理，能夠有效地排除測試中產生的接觸電阻和引線電阻的影響，通過的測試架能夠對不同直徑的電纜迅速而準確地測量其屏蔽層的電阻。
	ST2258C數字式四探針測試儀四探針電阻率測試儀	數字式四探針測試儀四探針電阻率測試儀 ST2258C型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
	FT-300經濟型粉末電阻率測試儀半導體粉末電阻率測試儀	經濟型粉末電阻率測試儀半導體粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。
	WBDY-V/SB2881油體積電阻率測試儀，油電阻率測試儀	油體積電阻率測試儀，油電阻率測試儀 WBDY-V型絕緣油體積電阻率測定儀DL421-91《絕緣油體電阻率測定法》的電力行業標準為依據，根據有源電橋的原理研制成功的一種新型電阻率測定儀器，具有結構簡單、線性度好、靈敏度高、測試結果穩定、操作安全等優點，其性能遠高于通常的電壓電流法。
	SB36液體（固體）體積電阻率測試儀表面電阻率測試儀	液體（固體）體積電阻率測試儀表面電阻率測試儀 SB36液體（固體）體積電阻率測試儀SB36液體體積電阻率及表面電阻率測試儀是根據GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（等同IEC 60093）和GB/T 10064-2006《測量固體絕緣材料絕緣電阻的實驗方法》（等同IEC 60167）而和的。
	HAD-ST2722半導體四探針電阻率測試儀電阻率測定儀	半導體四探針電阻率測試儀電阻率測定儀 ST2722 型半導體粉末電阻率測試儀是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。

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