電阻率測試儀_第(2)頁-北京恒奧德科技有限公司

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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡介
	HAD-BR-DXB電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀	電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀 HAD-BR-DXB型半導電屏蔽橡塑材料體積電阻率測試儀是高、化綜合電阻測量實驗組合裝置，它主是為產品質量檢測機構、電線電纜檢測實驗室、高校、材料檢測實驗室等實現半導電屏蔽電阻率和半導體橡塑材料體積電阻率制作的。
	HAD-M-3手持式四探針測試儀四探針電阻率測試儀	手持式四探針測試儀四探針電阻率測試儀 HAD-M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
	KDK-KDY-1四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀	四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。
	KDK-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀	便攜式四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導體材料電阻率的及國家標準測試方法有關規定。
	KDK-KDY-4四探針電阻率測試儀	四探針電阻率測試儀 KDK-KDY-4型四探針電阻率測試儀嚴格按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
	KDK-KDY-2兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀（測鍺）	兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀（測鍺） KDK-KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”。
	KDK-KDY-1四探針電阻率測試儀	四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/方阻測試儀/ 四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
	JH-WSP-11四探針電阻率測試儀	四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測定儀/電阻率測試儀 1、連接好測試探頭電纜與主機，接上電源。 2、儀器顯示開機界面“-J-H-”，等待幾秒鐘進入測試界面。 3、調節厚度，按‘+’、‘-’調節，如圖所示，數值為3.98mm。
	JH-WSP-3電阻率測試儀	電阻率測試儀電阻率測試儀是運用四探針測量原理的綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的篩選。
	JH-WSP-7便攜式型號電阻率測試儀	便攜式型號電阻率測試儀 1. 便攜式，使用9V供電 2. 具有電阻率及型號測試功能，適合分選型號，并能夠測試并顯示出電阻率的值。 3. 預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率
	CH-WSP-6半導體電阻率測試儀	半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀 CH-WSP-6型半導體電阻率測試儀是于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是硅料分選測試的理想工具。

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