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半導體電阻率測試儀
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產品型號:
CH-WSP-6
產品名稱:
半導體電阻率測試儀
產品報價:
產品特點:
半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀
CH-WSP-6型半導體電阻率測試儀是于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米,是硅料分選測試的理想工具。
  CH-WSP-6半導體電阻率測試儀 的詳細資料:

半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀 型號:CH-WSP-6

CH-WSP-6型半導體電阻率測試儀是于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米,是硅料分選測試的理想工具。

1、 主要指標:

電源:220V交流

可測晶片直徑(zui大)Ф100mm,方形230×220mm

恒流源:電流量程為0.01~1mA連續可調,誤差≦±0.5%。

數字電壓表:量程:0.1~200mV,zui大分辨率:100μV

電阻率顯示:三位半數字顯示:小數點、極性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米

輸入抗阻:0.2mV和2mV量程:>108Ω

測量精度:±0.1。

zui大電阻測量誤差(按JJG508-87進行):0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數±2個字。

重摻檢測誤差(JJG508-87進行):1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%

測量環境:溫度23±2℃,相對濕度≤65%

2、操作程序:

  1、首先連好電源,打開后面板電源開關,電源指示燈亮,表示待機完畢。

  2、校準設備:厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀,測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標準樣塊校準電阻率測試儀

  3、測試:用四探針接觸硅材料,以探針壓下三分之二為準,待儀器顯示數字穩定即可,

  4校驗:在測試過程中要求2小時用標準樣塊校準一次設備,

 

3、 針組件;維護及注意事項:

  1、一般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭的清理清潔工作

  2、維護后的安裝及維護過程中,注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑(1234)位置排列

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

多管快速混合器/多管混合器   型號;HAD-MT-360

 

產品名稱:
多管快速混合器MT-360
產品代碼:
多管快速混合器MT-360
產品描述:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

試管搖擺混合儀/試管搖擺混合器     型號;HAD-BE-2011

 

產品名稱:
BE-2011試管搖擺混合儀
產品代碼:
BE-2011試管搖擺混合儀
產品描述:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

標準測量天線  測量天線  型號:HA/MS2000E

產品特點 Product Features

,性能與國外公司的標準天線產品相似,達到國內水平 。MS2000E標準測量天線不僅適用于本公司的場強儀,同時還可與各類場強儀及測試接收機配套使用??捎糜谟芯€電視和無線網絡測量。

 

功能介紹 Functional Intro

● 適用于: 40MHz~1000MHz頻段的水平極化電波與垂直極化電波
● 駐波比: VSWR<2.5
● 阻  抗: 75Ω  、50Ω 
● 高  度: 2m~6m

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

反向傳輸信號源 信號源 型號:HA/MS2280

產品特點 Product Features

● 體積小重量輕,信號輸出非常精確。
● 尺寸:134X68X23mm 
● 重量:140g
● 輸出信號頻點:8,34,60MHz或 20,40,60MHz, 或10,20,30MHz或10,30,50MHz任選一種(也可用戶定制)
● 輸 出 幅 度:當開關置于K1位置時輸出105dBuV±1.0dBuV(紅燈亮)當開關置于K2位置時輸出85dBuV±1.0dBuV(綠燈亮)
● 電        源:AA 普通5#電池2只(用戶自配)

 

產品相關關鍵字: 半導體電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀
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