方塊電阻測試儀/電阻測試儀 型號：GSZ-SRM-232-100 GSZ-SRM-232型方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質的薄層電阻。
GSZ-SRM-232型方塊電阻測試儀根據不同的測量范圍分成以下四種型號：GSZ-SRM-232-10、GSZ-SRM-232-100、GSZ-SRM-232-1000、GSZ-SRM-232-2000； | | | | ◆ 特點： | | | 1 | 輕便手持式 | 2 | 127個數據測試點保存 | 3 | 通過RS-232與電腦通訊 |
| | | | ◆ 指標： | | | GSZ-SRM-232-10 | 測量范圍： 0.000～9.999(Ω/□)
分辨率：0.004(Ω/□) | GSZ-SRM-232-100 | 測量范圍：00.00～95.00(Ω/□)
分辨率：0.04(Ω/□) | GSZ-SRM-232-1000 | 測量范圍0～1000(Ω/□)
分辨率：0.4(Ω/□) | GSZ-SRM-232-2000 | 測量范圍：0～2000(Ω/□)
分辨率：0.8(Ω/□) |
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