手持式四探針測試儀 2016新款四探針電阻率測試儀 型號：HAD-M-3 概述 HAD-M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。 成套組成：由HAD-M-3主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。 儀器所有參數設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動/自動轉換量程可選；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！ 探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。 儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。 儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。 基本參數 1. 測量范圍、分辨率 電 阻: 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω 電 阻 率: 0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm 方塊電阻: 0.050～ 100.0kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 2. 可測材料尺寸 手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下： 直 徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。 SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。 長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。. 測量方位: 軸向、徑向均可. 3. 量程劃分及誤差等級 量程（Ω-cm/□） | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k | 電阻測試范圍 | 0.010～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～50.00k | 電阻率/方阻 | 0.010/0.050～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～20.00k | 基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB |
4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電 5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm 凈 重：≤0.3kg 北京恒奧德科技有限公司 電 話：/51666869/ 傳 真： 手 機：/ ：2820129828/1575574360/1321298635/1445496132 網 址：www.hengaodebj。。ｃｏｍ www.54pc。。ｃｏｍ/netshow/ZT11690
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