高電流電化學工作站 型號；HAD-CS1350 CS系列電化學工作站由高速MCU、高精度FET集成電路組成，內置DDS數字信號合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環伏安（CV）、階梯波循環伏安（SCV）、方波循環伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規脈沖伏安（NPV）以及差分常規脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以完成恒電流（位）極化、動電位（流）掃描、任意恒電流（位）方波，多恒電流（位）階躍、零電阻電流計、電化學噪聲（電偶電流）、電化學阻抗（EIS）等電化學測試等功能，所有測量功能均可定時自動進行，用于無人值守下的自動測量。
CS系列包括多種型號，可用于較大電流和較高槽壓的電化學測量和應用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±5A，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電流控制范圍：±5.0A；電流測量下限為10pA。
CorrTestTM 測試軟件是CS電化學工作站的控制平臺，軟件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系統，并遵守Windows軟件規則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實驗方法管理、多坐標圖形顯示和縮放、數據/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學術語保持*，全中文菜單和界面，方便用戶的教學和科研工作。
CorrTestTM 測試軟件還具有特別針對材料和腐蝕電化學的實驗方法，包括鈍化曲線自動或人工反掃，電化學再活化法，溶液電阻（IR降）測量和補償法。CorrtestTM 分析軟件則具有完善的數據分析功能，可對伏安曲線進行數字平滑、積分、微分運算，能對極化曲線進行電化學參數解析，包括極化電阻Rp，Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，腐蝕速率計算等，還可計算噪聲電阻Rn和功率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
CS系列電化學工作站全部采用USB2.0接口與計算機通訊，設備安裝簡單，即插即用。
外形尺寸：36.5cm(寬)*30.5cm(深)*16cm(高) 儀器重量：6.5Kg
應用領域
1) 研究電化學機理；物質的定性定量分析；
2) 常規電化學測試，包括電合成、電沉積(電鍍)性能評價；
3) 功能和能源材料(電池、電容器、納米材料、生物傳感器等)的機理和制備研究；
4) 緩蝕劑、水質穩定劑、涂層以及陰極保護效率快速評價以及氫滲測試等；
5) 金屬材料在導電性介質(包括水/混凝土/土壤等環境)中的腐蝕電化學測試。
儀器配置
1) 儀器主機1臺 2) CorrTest測試與分析軟件1套
3) 電解池(含鹽橋和排氣管)1套 4) 鉑金電極、參比電極、工作電極各1支
5) 模擬電解池1個 6) 電源線/USB數據線各1條
7) 電極電纜線1根 8) 電極架 (選配*)
9) 屏蔽箱 (選配*)
指標與功能方
硬件參數指標 恒電位電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±5.0A | 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數 | 電位靈敏度：10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz) | 電流靈敏度：<10pA | 電位上升時間：<1mS(<10mA),
<10mS(<2A),<20mS(>2A) | 電流量程：2A～200nA, 共8檔 | 參比電極輸入阻抗：1012 W||20pF | zui大輸出電流：5.0A | 槽壓：±15V | 電流掃描增量：1mA @1A/mS | CV 和LSV掃描速度：0.01mV～10000V/s | 電位掃描時電位增量：0.1mV @1V/mS | CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s | SWV頻率：0.001～100KHz | CV的zui小電位增量：0.075mV | AD數據采集：16bit@1MHz，20bit@1kHz， | 電流與電位量程：自動設置 | DA分辨率：16bit，建立時間：1mS | 低通濾波器 ：8段可編程 | 接口通訊模式：USB2.0 | |
電化學阻抗測量指標 信號發生器 | | 頻率響應：10mHz～115KHz(CS1310/CS1350)
10mHz～1MHz(CS1360) | 交流信號幅值：0mV～2500mV | 直流偏壓：-10～+10V | DDS輸出阻抗：50W | 波形：正弦波，三角波，方波 | 正弦波失真：<1% | 掃描方式：對數/線性，增加/下降 | zui大負載電容：1nF；zui大負載電感：10mH | 信號分析器 | | 積分時間：zui大值：106個循環或者105S | 測量時間延遲：0～105秒 | zui小值：10mS 或者一個循環的zui長時間 | | 直流偏置補償 | | 電位自動補償范圍：-10V～+10V | 電流補償范圍：-1A～+1A | 帶寬調整：自動或手動設置, 共8級可調 | |
CS系列儀器不同型號功能比較 功 能 方 法 | CS1120 | CS1150 | CS1300 | CS1310 | CS1350 | CS1360 | 穩
態
極
化 | 開路電位測量（OCP） | • | • | • | • | • | • | 恒電位極化 | • | • | • | • | • | • | 恒電流極化 | | • | • | • | • | • | 動電位掃描（DPP） | • | • | • | • | • | • | 動電流掃描（DGP） | | • | • | • | • | • | 暫
態
極
化 | 任意恒電位方波 | • | • | • | • | • | • | 任意恒電流方波 | | • | • | • | • | • | 多電位階躍（VSTEP） | • | • | • | • | • | • | 多電流階躍（ISTEP） | | • | • | • | • | • | 快速電位脈沖 | | | | | | • | 快速電流脈沖 | | | | | | • | 計
時
分
析 | 計時電位法（CP） | | | • | • | • | • | 計時電流法（CA） | | | • | • | • | • | 計時電量法（CC） | | | • | • | • | • | 伏
安
分
析 | 線性掃描伏安法（LSV） | • | • | • | • | • | • | 循環伏安法（CV） | • | • | • | • | • | • | 階梯伏安法（SCV） | | | • | | • | • | 差分脈沖伏安法（DPV） | | | • | | • | • | 常規脈沖伏安法（NPV） | | | • | | • | • | 方波伏安法（SWV） | | | • | | • | • | 交流伏安法（ACV） | | | • | | • | • | 常規差分脈沖伏安法（DNPV） | | | • | | • | • | 二次諧波交流伏安 (SHACV) | | | • | | • | • | 溶
出
伏
安 | 恒電位溶出伏安 | | | • | | • | • | 線性溶出伏安 | | | • | | • | • | 階梯溶出伏安 | | | • | | • | • | 方波溶出伏安 | | | • | | • | • | 交流溶出伏安 | | | • | | • | • | 交
流
阻
抗 | 電化學阻抗（EIS）～頻率掃描 | | | | • | • | • | 電化學阻抗（EIS）～時間掃描 | | | | • | • | • | 電化學阻抗（EIS）～電位掃描 | | | | • | • | • | 腐
蝕
測
量 | 循環極化曲線（CPP） | • | • | • | • | • | • | 線性極化曲線（LPR） | • | • | • | • | • | • | 電化學噪聲 (EN) | • | • | • | • | • | • | 電偶腐蝕測量 (ZRA) | • | • | • | • | • | • | 氫擴散測試（HDT） | | • | • | • | • | • | 電
池
測
試 | 電池充放電測試 | | • | • | • | • | • | 恒電流充放電 | | • | • | • | • | • | 恒電流間歇充放電 | | • | • | • | • | • | 擴
展
測
量 | 盤環電極測試 | | | • | • | • | • | 數字記錄儀 | • | • | • | • | • | • | 波形發生器 | | | • | • | • | • | 圓盤電機控制 | | | • | • | • | • |
注：* 氫滲透測試中主動式充氫需要另行配置CS1001A恒流源使用或采用CS2350雙恒電位儀。 北京恒奧德科技有限公司 電 話：/51666869/
傳 真： 手 機：/ ：2820129828/1575574360/1321298635/1445496132 網 址：www.hengaodebj。。ｃｏｍ www.54pc。。ｃｏｍ/netshow/ZT11690
www.bjhadkj。。ｃｏｍ www.hadkj88。。ｃｎ.alibaba.com 地 址：北京北洼路90號院16號樓317室（北京市地質工程勘察院院內） |
