濕海綿針孔檢漏儀/針孔檢漏儀 * 型號:HAD-SJ-6

整機概述： HAD-SJ-6濕海綿針孔檢漏儀是一款多電壓的檢漏儀，它應用濕海綿測試，上滿足濕海綿檢漏儀的新標準——即高質量、低電壓檢漏儀。用于測量導電基體上500微米以下的絕緣涂層的針孔、縫隙、破損等缺陷。

性能及特點：

（1）適用檢測厚度：9V ——300微米； 67.5V—500微米； 90V——500微米；（2）靈敏度：9V——90KΩ+5%； 67.5V—125KΩ+5%； 90V——400KΩ+5%；（3）電壓精確度：+5%；（

4）電池：鋰聚合物電池（Li-pol）11.1V/1100mA （5）消耗功率：≤0.5W；

（6）主機重量：500克

（7）尺寸：290×53×53mm （8）電壓指示:三個電壓分別有對應的led燈指示；（9）電池充電：專門配有12VDC鋰電池恒壓充電器。

（10）海綿尺寸：170×70×30mm

（11）探桿長度：195mm

（12）地線長度：4m 儀器及附件（裝箱單）

 ⑴ HAD-SJ—6型濕海綿針孔檢漏儀主機　　 　 1臺

 ⑵ 探桿　　　　　　　　 　　　　 　 1支

 ⑶ 海綿探頭 　　　　　　　　 1塊

⑷ 接地線 1根

 ⑸ 充電器 1個

⑹ 塑料包裝箱 1個

 ⑺ 使用說明書 1份

 ⑻ 儀器保修卡 合格證　　　 　　 1份

電線電纜半導電橡塑電阻測試儀/電阻測試儀 型號：HAD-HHY8-DB-4

HAD-HHY8-DB-4電線電纜半導電橡塑電阻測試儀是根據國家標準GB3048.3—94研究成功的測量設備，主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，若換上的四端子測試夾，還可以對金屬導體材料及產品的低、中值電阻進行測量

經過了十多年的實際運行，全國近百家主要電纜廠和半導電屏蔽材料廠均已采用了該儀器，它是目前全國wei一符合國家標準GB3048.3-94的測量半導電橡塑材料電阻率的儀器。

   儀器為臺式結構，主要由電氣箱、測試架兩大部分組成，固定在工作臺上，電氣箱包括高靈敏的直流數字電壓表和高穩定的直流恒流源，測量結果采用LED數字直接顯示，測量電流輸出也采用LED數字顯示，從0—100mA范圍內可任意調節，可達到控制測試功率損耗的規定，儀器測試架由電極、壓力探頭、樣品臺及電動傳動機構組成，操作按鍵電鈕，可進行半自動測量。

   儀器具有測量精度高、穩定性好、結構緊湊、使用方便等特點，符合和國家標準的要求。

   儀器適用于電纜廠、導電橡塑材料廠、計算機廠、電子表廠、高等院校、科學研究等，對于導電橡塑材料及產品的電阻性能測試、工藝檢測，是必需的測試設備。

   儀器主要指標：                                                            

一、 測量范圍：10^-4--10³Ω-cm可擴展到10⁵Ω-cm；分辯率10^-6Ω-cm

二、 數字電壓表：

1．  量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  測量誤差  0.2mA檔±(0.5%讀數+8字)；2mV—2V擋±(0.5%讀數+2字)

3．  顯示3 1/2 位數字顯示0—1999具有極性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。

三、 恒流源：

1．  電流輸出：直流電流0—100mA連續可調，由交流電源供給，數字顯示

2．  量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

3．  電流誤差：±(0.5%讀數+2字)

四、 測量電極：

1．  電流電極：寬度50mm,與試樣的接觸寬度5mm，兩個電流電極間的距離110mm

2．  電位電極：寬度50mm，接觸半徑，兩個電位電極間的距離20mm±2%

  五、電源：220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

六、外形尺寸（包括測試工作臺）1200×600×1050mm（長×寬×高)

二探針單晶硅及多晶硅測試儀　型號：HAD-HHY8-GL-1

本儀器主要用于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和加工。

    為適應大規模集成電路的迅猛發展，特別是計算機芯片、內存的發展，越來越多的使用到了大直徑、高純度、均勻度更高的單晶硅材料。目前，在美國、德國等的工業國家，均采用了二探針法，使用二探針檢測儀來測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。

儀器符合美國ASTM 《“F391-77”關于二探針測量硅單晶試驗方法》的標準，是一種新型的半導體電阻率測試儀，適合半導體材料廠和器件廠用于二探針法精確測量單晶硅和多晶硅半導體棒狀材料的體電阻率，從而進一步判斷半導體材料的性能，指導和監視工藝操作，也可以用來測量金屬材料的電阻，儀器具有測量精度高、穩定性好、結構緊湊、使用方便、造型美觀等特點。也可以配四探針測試頭作常規的四探針法測量硅晶體材料。

    儀器分為儀表電氣控制箱、測試臺、探頭三部分，儀表電氣控制箱由高靈敏度直流數字電壓表、高抗干擾高隔離性能的電源變換裝置、高穩定高精度恒流源和電氣控制部分組成。測量結果由大型LED數字顯示，零位穩定、輸入阻抗高，并設有自校功能。在棒狀材料使用二探針法測試時，具有系數修正功能，從面板輸入相應的修正系數，可以直接讀出電阻率，使用方便。測試臺結構新穎，造型美觀，可以方便地固定好大小任意尺寸的樣品，并可以作逐點選擇步進測量，也可以自由選擇固定位置測量，電極活動自如，具備鎖定裝置，方便重復測量。另外還配置了二處記錄板和轉椅，測試探頭能自動升降，探針為碳化鎢材料，配置寶石軸承，具有測量精度高、游移率小、耐磨、使用壽命長特點。同時探頭壓力恒定并且可調整，以適合不同的材料。

儀器主要指標：

1.可測硅材料尺寸：

     直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求。

     長度：100~1100mm.

2.測量方式：軸向測量，每隔10mm測量一點。

3.測量電阻率范圍：10^-3~10³Ω-cm,可擴展到10⁵Ω-cm。

4.數字電壓表：

    （1）量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

    （2）測量誤差：±0.3%讀數±2字

    （3）輸入阻抗：0.2mV和2mV檔>10⁶Ω

                  20mV檔及以上>10⁸Ω

    （4）顯    示：3^1/2位LED數字顯示，范圍0~1999。

5.恒流源：

    （1）電流輸出：直流電流0~100mA連續可調。

    （2）量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

    （3）電流誤差：±0.3%讀數±2字

6.二探針測試裝置：

    （1）探針間距：4.77mm

    （2）探針機械游移率：0.3%

    （3）探針壓力：0~2kg可調

    （4）測試探頭自動升降

7.二探針測試臺

    （1）測試硅單長度：100-1100mm

    （2）測試點間距：10mm

    （3）測試臺有慢、快二種移動速度，快速移動速度為1000mm/分（均勻

手動）

8.電源：交流220V±10%，50HZ±2HZ，消耗功率<150W

數字式四探針測試儀/四探針測試儀/數字式四探針檢測儀　型號：HAD-HHY8-SZT-2000

HAD-HHY8-SZT-2000型數字式四探針測試儀是根據四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀

半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10^-6--10⁵Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監測的必需儀器。

儀器為臺式結構，分為電氣箱、測試架兩大部分，用戶可以根據測試需要安放在一般工作臺或者工作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點。探頭內設有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續可調，測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。

儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數字電壓表和高穩定的恒流源組成，測量結果由數字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點，儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究、高等院校，對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。

儀器主要指標：

1．  范圍：電阻率10^-4—10³Ω—cm，可擴展至10⁵Ω—cm，分辯率為10^-6Ω—cm

         方塊電阻10^-3—10³Ω /□

         電阻10^-6—10⁵Ω

2．  可測半導體尺寸：直徑Φ15—150mm

3．  測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）

4．  數字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數+8字）

              2 mV檔以上±（0.3%讀數+2字）

  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋10⁵Ω

              20mV檔以上>10⁸Ω

  (4)顯示3 1/2位數字顯示，0—1999

具有極性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示

5．  恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續可調，由交流電源供給

   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

   （3）電流誤差：±（0.3%讀數+2字）

6．四探針測試探頭  （1）探頭間距：1mm   (2)探針機械游率：±0.3%

                   (3) 探針：Φ0.5mm    (4)壓力：可調

  7. 測試架：

  （1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。

  （2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調，探頭下降時間1S—99S可調，壓力恒定可調（由砝碼來設定）同時設有腳踏控制裝置由腳踏開關控制探頭上下運動。

   8.電流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W

9．    外形尺寸：電氣箱130×110×400mm

半導體電阻率測試儀/電阻率測試儀/半導體電阻率測定儀(含探頭和測試架）　型號：HAD-HHY8-BD-86A

HAD-HHY8-BD-86A型半導體電阻率測試儀是我廠推出的的普及型半導體電阻率測試儀器，本儀器是根據四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率，方塊電阻（簿層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻，經過對用戶、半導體廠測試的調查，根據美國ASTM標準的規定，在電路和探頭方面作了重大的修改和上的許多突破，它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量精度高，穩定性好，輸入阻抗高，使用方便、價格低廉等特點。

   儀器主要指標：

1．  測量范圍：電阻率10^-3—10³Ω-cm，分辯率為 10^-4Ω-cm ，可擴展到10⁵Ω-cm

  方塊電阻10^-2—10⁴Ω/□，分辯率為10^-3Ω/□，可擴展到10⁶Ω/□

薄層金屬電阻10^-4—10⁵Ω，分辯率為10^-4Ω

2.可測半導體材料尺寸：直徑Φ15—Φ125mm；  長度：150mm(可擴展500mm)

     3.測量方式：軸向、斷面均可

4．數字電壓表：（1）量程：20mV(分辯率：10μV)、200mV、2V

             （2）測量誤差：±0.3%讀數±1字

             （3）輸入阻抗：大于10⁸Ω

             （4）顯示3 1/2 位紅色發光二極管（LED）數字顯示

                  0---1999具有極性、過載、小數點、單位自動顯示

5．恒流源：由交流供電，具有良好的防泄漏隔離功能

（1）       直流電流：0—100mA連續可調

（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

（3）       分辯率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

（4）       電流誤差：±0.3%讀數±2字

6．電性能模擬考核誤差：<±0.3%符合ASTM指標

7．測試探頭：（1）探針機械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指標

8．電源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W

9．電氣箱外形尺寸：119×440×320mm